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Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
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Geometrieabhängigkeit von jc in Dünnschicht-Niobbrücken
Forschungsthema:
Dünnschichttechnologie
Typ:
Bachelorarbeit
Betreuung:
Dr. rer. nat. Konstantin Ilin
Bearbeitung:
Yannick Luck
