KIT - Karlsruher Institut für Technologie
Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
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Aufbau eines integrierten Bias-Tees für supraleitende Detektoranwendungen
Forschungsthema:
Dünnschichttechnologie
Datum:
ab sofort
Betreuer:
M. Sc. Ekkehart Schmidt
